電芯內(nèi)部結(jié)構(gòu)無(wú)損X

電池的故障分析通常分為破壞性和非破壞性測(cè)試，非破壞性的無(wú)損分析相對(duì)于常規(guī)破壞性的測(cè)試目前更有利于失效分析。本節(jié)重點(diǎn)講解無(wú)損X-Ray測(cè)試；

什么是X-Ray測(cè)試？

X-Ray是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過(guò)程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無(wú)法以外觀方式檢測(cè)的位置，利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測(cè)物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問(wèn)題的區(qū)域。

為什么要做電芯內(nèi)部結(jié)構(gòu)無(wú)損X-RAY檢測(cè)？

對(duì)于故障的電池，可以在不損壞電池的情況下做X-RAY檢測(cè)，觀察內(nèi)部的正負(fù)極材料等；管控生產(chǎn)產(chǎn)品一致性，對(duì)于產(chǎn)品研發(fā)開(kāi)發(fā)者提供了便利的分析手段。

測(cè)試步驟：

確認(rèn)樣品類(lèi)型/材料→樣品放入X-Ray設(shè)備檢測(cè)→圖片判斷分析→標(biāo)注缺陷類(lèi)型和位置。